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Ergebnisse für "Tan, Sheldon/Tahoori, Mehdi/Kim, Taeyoung et al"

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Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems
Modeling, Analysis and Optimization
Tan, Sheldon/Tahoori, Mehdi/Kim, Taeyoung et al
Springer Verlag GmbH
Erschienen am 25.09.2019
€ 160,49
(inklusive MwSt.)
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Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems
Modeling, Analysis and Optimization
Tan, Sheldon/Tahoori, Mehdi/Kim, Taeyoung et al
Springer Verlag GmbH
Erschienen am 25.09.2020
€ 160,49
(inklusive MwSt.)
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